NanoPlus系列納米粒度與Zeta電位分析儀
2018-05-17打印閱讀次數(shù)：1196返回 70mW激光光源提供高清分析，可檢測混合物中的小體積聚集體。
多點測量掃描，用于測試等電點、配方穩(wěn)定性和膠體系統(tǒng)的均勻性，獲取體系真正的Zeta電位信息。了解、預(yù)測和量化產(chǎn)品的穩(wěn)定性。
通過單次測試即可在整個動態(tài)范圍內(nèi)獲取更多的樣品信息，節(jié)省時間。
多點測量掃描，用于測試等電點、配方穩(wěn)定性和膠體系統(tǒng)的均勻性，獲取體系真正的Zeta電位信息。了解、預(yù)測和量化產(chǎn)品的穩(wěn)定性。
通過單次測試即可在整個動態(tài)范圍內(nèi)獲取更多的樣品信息，節(jié)省時間。
深入研究獲取的數(shù)據(jù)，可提高產(chǎn)率，優(yōu)化流程，開發(fā)潛能。
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保護數(shù)據(jù)的完整性、確保重復性和精確度，獲得高可信度的結(jié)果
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納米粒度、分子量和Zeta電位動態(tài)光散射分析儀
NanNanoPlus系列儀器具備卓越的性能和靈敏度，設(shè)計緊湊，配備直觀的操作控制軟件，廣泛適用于各種材料測試，是測試粒度分布與Zeta電位的理想產(chǎn)品。
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新一代Zeta電位和粒度分析儀
新一代NanoPlus HD，配備70mW激光器，具有更高的精度、更廣的溫度控制范圍和更高的效率。是一個獨特的DLS和ELS系統(tǒng)：
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